Maqsad

"Fizeau" fotoelektrik interferometri (keyingi o'rinlarda qurilma) ilmiy-tadqiqot institutlarida va optik asboblarni ishlab chiqarishda optik sirtlarning tekisligidan og'ishlarni o'lchash uchun mo'ljallangan.

Tavsif

Qurilmaning ishlash printsipi shovqin fenomeniga asoslanadi. Boshqariladigan plastinka yordamida elektromagnit nurlanish nurlari fazoviy ravishda bir-biriga aralashadigan ikkita kogerent nurga bo'linadi. Birinchi nur mos yozuvlar yuzasidan aks ettirilgandan so'ng, ikkinchisi - boshqariladigan plastinkadan o'tgandan keyin hosil bo'ladi.

Interferentsiya natijasida matritsani qabul qiluvchining tekisligida chiziqlar ko'rinishidagi interferentsiya naqsh hosil bo'ladi.

Sirtlarning shaklini nazorat qilish interferentsion naqsh tahliliga asoslanadi.“Fizo” fotoelektrik interferometrida oʻlchovlarni avtomatlashtirish uchun interferogrammalarni avtomatik dekodlash uchun fazali qadam usulini amalga oshiradigan maxsus elektron boshqaruv bloki qoʻllaniladi. Interferentsiya naqshlarini tahlil qilish va uning asosida boshqariladigan sirt yoki undan aks ettirilgan to'lqin frontining shakl parametrlarini aniqlash shaxsiy kompyuter yordamida maxsus dastur yordamida amalga oshiriladi.