Дефектоскопы универсальные Томографик (далее - дефектоскопы) предназначены для измерений амплитуд эхо-сигналов, отраженных от дефектов типа нарушения сплошности и однородности материалов в металлах и неметаллах, электропроводящих и неэлектропроводящих композитах, времени прохождения продольной ультразвуковой волны в материале, координат дефектов, толщины изделия, а также для выявления неоднородностей и несплошностей (рисок) в токопроводящих объектах контроля при вихретоковом контроле.

Описание

Принцип действия дефектоскопов в ультразвуковом режиме основан на способности ультразвуковых колебаний распространяться в контролируемых изделиях и отражаться от границ разделов сред, возникающих при появлении различных неоднородностей и несплошностей в различных объектах контроля (ОК) - металлах и неметаллах, электропроводящих и неэлектропроводящих композитах.

Напряжение генератора импульсов возбуждения (ГИВ) подается на пьезоэлектрический преобразователь (ПЭП). Ультразвуковые колебания (УЗК), генерируемые ПЭП, распространяются в объекте контроля, отражаются от дефекта и принимаются дефектоскопом при различных положениях ПЭП относительно дефекта.

Принцип действия дефектоскопов в вихретоковом режиме основан на способности регистрации изменения амплитуд и фаз сигналов при наличии неоднородностей и несплошностей в токопроводящих ОК.

Дефектоскопы состоят из электронного блока, в соответствии с модификацией дефектоскопа и с заказом могут поставляться преобразователи и подключаемые сканирующие устройства (сканеры).